面板PCIM检测系统提高检测效率优化的方法与流程

本申请涉及pcim检测，具体涉及面板pcim检测系统提高检测效率优化的方法。

背景技术：

1、pcim系统实现了智能检测，串接全厂所有检测设备，实现智能化检测产品的功能。如图1所示，原有的pcim系统结构，设备和pcim系统是一一对应的，不同设备之间pcim系统并不互通，人员使用pcim系统进行等级判定时，无法参考上一工位pcim的判级信息，设备工艺信息等，导致人员判级效率低，准确率低，漏检率高，从而影响产能。

2、原有判级操作步骤如下：

3、1.产品通过pg点亮后，检测人员开始检查第一个画面是否存在不良，如果发现不良，使用pcim系统选定不良，没有不良继续切图；

4、2.切到第二个画面，检测第二个画面是否存在不良，如果发现不良，使用pcim系统选定不良，没有不良继续切图；

5、3.直到所有画面都检测完，所有不良都在pcim系统选定后；

6、4.点击判级结束按钮，结束判级。

7、原有的检测设备，检测系统各控各，单打独斗，效率低下，准确率低，人员排班利用率差，不好统一管理。再加上检测系统人员检测盲目检测，没有数据参考，以及图片参考提醒等功能，检测速度低下，资源浪费，难以满足现有的效率，产能要求。检测系统无法串接前工艺制成，数据可靠性差。

技术实现思路

1、本发明提供了一种面板pcim检测系统提高检测效率优化的方法，其目的在于，提高面板pcim检测系统的判级效率、准确率和生产效率。

2、本申请是通过以下技术方案实现的：

3、面板pcim检测系统提高检测效率优化的方法，操作步骤如下：

4、(1)产品通过pg点亮后，检测人员查看pcim系统主ui上是否有前工艺信息重点不良弹窗提示，如果有弹窗提示信息，按提示信息完成判级，节省切图检测时间；

5、(2)产品通过pg点亮后，检测人员查看pcim系统主ui上是否有前工艺不良图片显示，如果有，参考不良图片中不良，切图检查时重点检查是否有类似不良，防止漏检；

6、(3)产品通过pg点亮后，没有弹窗提示，不良图片，则需要每个切图画面都检测，直到所有画面都检测完，所有不良都在pcim系统选定后；

7、(4)点击判级结束按钮，结束判级。

8、优选地，pcim系统都与mcim系统互通。

9、优选地，设备的工艺信息，pcim系统的判级信息都会存放到mcim系统。

10、优选地，使用pcim系统进行判级时，pcim系统从mcim系统获取前一工位的工艺信息，判级信息，给检测人员以提醒、参考，帮助检测人员快速精准定位不良完成判级。

11、优选地，当需要拦截产品时，可以通过系统设置，遇到符合拦截条件的产品时pcim系统自动完成判级。

12、有益效果：在引进之后，所有检测工位实现串接，检测系统可以参考之前工位，之前的工艺，对该产品的影响，让检测人员带着目的性的检测，提高了效率，提高了判屏检测率，具体包括：

13、(1)可以使判级人员简单易操作；

14、(2)提高了判级效率；

15、(3)提高了判级准确率；

16、(4)提高了产品追溯能力。

技术特征：

1.面板pcim检测系统提高检测效率优化的方法，其特征在于，操作步骤如下：

2.根据权利要求1所述的面板pcim检测系统提高检测效率优化的方法，其特征在于，pcim系统都与mcim系统互通。

3.根据权利要求1所述的面板pcim检测系统提高检测效率优化的方法，其特征在于，设备的工艺信息，pcim系统的判级信息都会存放到mcim系统。

4.根据权利要求1所述的面板pcim检测系统提高检测效率优化的方法，其特征在于，使用pcim系统进行判级时，pcim系统从mcim系统获取前一工位的工艺信息，判级信息，给检测人员以提醒、参考，帮助检测人员快速精准定位不良完成判级。

5.根据权利要求1所述的面板pcim检测系统提高检测效率优化的方法，其特征在于，当需要拦截产品时，可以通过系统设置，遇到符合拦截条件的产品时pcim系统自动完成判级。

技术总结
本发明公开了一种面板PCIM检测系统提高检测效率优化的方法，操作步骤如下：(1)产品通过PG点亮后，检测人员查看PCIM系统主UI上是否有前工艺信息重点不良弹窗提示，如果有弹窗提示信息，按提示信息完成判级，节省切图检测时间；(2)产品通过PG点亮后，检测人员查看PCIM系统主UI上是否有前工艺不良图片显示；(3)产品通过PG点亮后，没有弹窗提示，不良图片，则需要每个切图画面都检测，直到所有画面都检测完，所有不良都在PCIM系统选定后；(4)点击判级结束按钮，结束判级。本发明在引进之后，所有检测工位实现串接，检测系统可以参考之前工位，提高了效率，提高了判屏检测率。

技术研发人员：叶信强,徐庆中
受保护的技术使用者：上海哥瑞利软件股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13